| Libellé du cours : | Techniques d analyse avancées |
|---|---|
| Département d'enseignement : | CMA / Chimie et Matière |
| Responsable d'enseignement : | Monsieur JEREMIE BOUQUEREL |
| Langue d'enseignement : | |
| Ects potentiels : | 0 |
| Grille des résultats : | Grade de A à F |
| Code et libellé (hp) : | ENSCL_CI_M9_C3_2 - Techniques d'analyse avancées |
Equipe pédagogique
Enseignants : Monsieur JEREMIE BOUQUEREL / Madame ANNE-SOPHIE MAMEDE
Intervenants extérieurs (entreprise, recherche, enseignement secondaire) : divers enseignants vacataires
Résumé
Les techniques de caractérisations employées dans la science des matériaux sont exposées. Les techniques avancées présentées complètent celles mentionnées l’année précédente dans le cadre du cours d’analyse des solides (Microscopie à Balayage, Diffraction Rayons X, Fluorescence X…). Le cours se focalise sur les techniques suivantes : - La microanalyse X (dispersion d’énergie des photons X (EDX) ou dispersion en longueur d’onde (WDS)) - La diffraction des électrons rétrodiffusés (EBSD) - La Microscopie Electronique en Transmission (MET) - La spectroscopie de photoélectrons (XPS). Un autre aspect des méthode de caractérisation, relatif aux contrôles non-destructifs est lui aussi abordé Après avoir exposé les phénomènes physiques intervenant dans chacune des techniques ainsi que les principes de base de fonctionnement, des séances de travaux pratiques ou des démonstrations d'équipement sont mises en place. Ces séances se déroulent au sein des laboratoires de recherche de l’ENSCL (UCCS et UMET) où une compétence sur chacune des techniques est reconnue.
Objectifs pédagogiques
Avoir les connaissances de bases sur ces techniques de caractérisation dites avancées. Identifier les domaines d'application et les résultats exploitables
Objectifs de développement durable
Modalités de contrôle de connaissance
Contrôle Continu
Commentaires:
Ressources en ligne
- EBSD : Analyse par diffraction des électrons rétrodiffusés - Applications et techniques couplées, Ed. EDP Sciences (2015), ISBN : 978-2-7598-1912-6 - Microscopie électronique à balayage et Microanalyses, Ed. EDP Sciences (2008), ISBN : 978-2-75980082-7 - Méthodes usuelles de caractérisation des surfaces, D. David, R. Caplain, Eyrolles (1988) - Microcaractérisation des solides, M. Ammou, CRAM-LPSES-CNRS (1989)
Pédagogie
Cours conventionnels Capsules vidéos relatives à certains équipements Travaux Pratiques Démonstration d'équipement: AFM, EBSD, XPS...
Séquencement / modalités d'apprentissage
| Nombre d'heures en CM (Cours Magistraux) : | 14 |
|---|---|
| Nombre d'heures en TD (Travaux Dirigés) : | 8 |
| Nombre d'heures en TP (Travaux Pratiques) : | 0 |
| Nombre d'heures en Séminaire : | 0 |
| Nombre d'heures en Demi-séminaire : | 0 |
| Nombre d'heures élèves en TEA (Travail En Autonomie) : | 0 |
| Nombre d'heures élèves en TNE (Travail Non Encadré) : | 0 |
| Nombre d'heures en CB (Contrôle Bloqué) : | 0 |
| Nombre d'heures élèves en PER (Travail PERsonnel) : | 0 |
| Nombre d'heures en Heures Projets : | 0 |
Pré-requis
- Validation de l’Unité d’enseignement Chimie Physique au semestre 5 - Validation de l’Unité d’enseignement Chimie minérale au semestre 6 - Validation de l’Unité d’enseignement Science des matériaux au semestre 7 - Validation de l’Unité d’enseignement Propriétés d’emplois au semestre 8 - Validation de l’Unité d’enseignement Matériaux au semestre 8